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廣電計(jì)量裝備定壽延壽,元器件失效分析采用特定專業(yè)的檢測(cè)設(shè)備，采用加速試驗(yàn)、?品分析、歷史數(shù)據(jù)收集等方式方法，輔以產(chǎn)品失效分析，即時(shí)發(fā)現(xiàn)貯存失效機(jī)理，并基于科學(xué)的概率數(shù)理統(tǒng)計(jì)理論，計(jì)算出產(chǎn)品的可靠性特征參數(shù)和壽命特征值分布曲線，確定裝備貯存壽命。

超大規(guī)模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測(cè)試是確定或評(píng)估?規(guī)模集成電路的功能和電性能的過(guò)程，是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、監(jiān)控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)?的重要?段。

廣電計(jì)量集成電路工程化量產(chǎn)測(cè)試,失效機(jī)理分析，擁有經(jīng)驗(yàn)豐富的IC測(cè)試技術(shù)開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)，可提供各類芯?的測(cè)試方案開(kāi)發(fā),測(cè)試硬件開(kāi)發(fā),測(cè)試程序開(kāi)發(fā)與調(diào)試,小批量測(cè)試,應(yīng)?驗(yàn)證.從?程化到量產(chǎn)的全流程專業(yè)定制化的?站式服務(wù).